Identification of defective two dimensional semiconductors by multifractal analysis: The single-layer MoS2 case study

استادیار

دانشکده: مهندسی مواد و صنایع

گروه: مواد

رزومه

دانشکده: مهندسی مواد و صنایع - گروه: مواد

نویسندگان	Reza Shidpour, S.M.S. Movahed
نشریه	PHYSICA A-STATISTICAL MECHANICS AND ITS APPLICATIONS
تاریخ انتشار	۲۰۱۸

چکیده مقاله